Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, substrate sapphire, buffer layers, crack formation, Jc/B curves, thickness dependence, fabrication, critical caracteristics
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films thick, films epitaxial, substrate single crystal, buffer layers, PLD process, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics, fabrication
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C., Murugesan M., Bagarinao K.D.(kathy@ni.aist.go.jp)
Yamasaki H., Nakagawa Y., Obara H., Nie J.C.(jcnie@bnu.edu.cn), Develos-Bagarinao K., Murugesan M., Mawatari Y.
Yamasaki H., Nakagawa Y., Murugesan M.(m.murugesan@aist.go.jp), Obara H., Kosaka S., Nie J.C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, PLD process, fabrication, critical current density, heat treatment, temperature dependence, YBCO, experimental results, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.